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无损检测证书挂靠：超声波无损检测的设备和器材要求
4.2.1 超声波检测的仪器和探头产品质量合格证明
超声检测仪器产品质量合格证中至少应给出预热时间、低电压报警或低电压自动关机电压、发射脉冲重复频率、有效输出阻抗、发射脉冲电压、发射脉冲上升时间、发射脉冲宽度（采用方波脉冲作为发射脉冲的）以及接收电路频带等主要性能参数;探头应给出中心频率、带宽、电阻抗或静电容、相对脉冲回波灵敏度以及斜探头声束性能（包括探头前沿距离（入射点）、K值（折射角β）等）等主要参数。
4.2.2 检测仪器、探头和组合性能
4.2.2. 1 检测仪器 采用A型脉冲反射式超声检测仪，其工作频率按-3dB 测量应至少包括0.5MHz~10MHz频率范围，超声仪器各性能的测试条件和指标要求应满足附录A的要求并提供证明文件，测试方法按 GBT 27664.1的规定。
4.2.2.2 探头
圆形晶片直径一般不应大于 40mm，方形晶片任一边长一般不应大于 40mm，其性能指标应符合附录 B 的要求并提供证明文件，测试方法按 GB/T 27664.2 的规定。 4.2.2.3 仪器和探头的组合性能
4.2.2.3.1 仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区（仅限直探头）和远场分辨力。
4.2.2.3.2 以下情况时应测定仪器和探头的组合性能∶
a） 新购置的超声检测仪器和（或）探头;
b） 仪器和探头在维修或更换主要部件后;
c）检测人员有怀疑时。
4.2.2.3.3 水平线性偏差不大于 1%，垂直线性偏差不大于 5%。
4.2.2.3.4 仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于±10%。
4.2.2.3.5 仪器-直探头组合性能还应满足以下要求∶
a） 灵敏度余量应不小于 32dB;
b）在基准灵敏度下，对于标称频率为 5MHz 的探头，盲区不大于 10mm;对于标称频率为
2.5MHz 的探头，盲区不大于 15mm;
c）直探头远场分辨力不小于 20dB。
4.2.2.3.6 仪器-斜探头组合性能还应满足以下要求∶
a） 灵敏度余量应不小于 42dB;
b ）斜探头远场分辨力不小于12dB。
4.2.2.3.7 在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。
4.2.2.3.8 仪器和探头组合频率的测试方法按 JB/T 10062的规定，其他组合性能的测试方法参照
JB/T 9214 的规定。
4.2.3 试块
4.2.3.1 标准试块
4.2.3.1.1 标准试块是指具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块，用于评定和校准超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准的试块。本部分采用的标准试块为 20 号
优质碳素结构钢制 CSK-IA、DZ-I 和 DB-P Z20-2。
4.2.3.1.2 CSK-IA 试块的具体形状、尺寸见本部分，DZ-I和 DB-PZ20-2 的具体形状和尺寸见 JB/T 9214。
4.2.3.1.3 标准试块的制造应满足 JB/T8428的要求，制造商应提供产品质量合格证，并确保在相同测试条件下比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体（面）时，其最大反射波幅差应小于等于 2dB。 4.2.3.2 对比试块
4.2.3.2.1 对比试块是指与被检件或材料化学成分相似，含有意义明确参考反射体（反射体应采用机加工方式制作）的试块，用以调节超声检测设备的幅度和声程，以将所检出的缺陷信号与已知反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。
4.2.3.2.2 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到不同工件厚度对接接头的检测，试块厚度的选择应由较大工件厚度确定。
4.2.2 检测仪器、探头和组合性能
4.2.2. 1 检测仪器 采用A型脉冲反射式超声检测仪，其工作频率按-3dB 测量应至少包括0.5MHz~10MHz频率范围，超声仪器各性能的测试条件和指标要求应满足附录A的要求并提供证明文件，测试方法按 GBT 27664.1的规定。
4.2.2.2 探头
圆形晶片直径一般不应大于 40mm，方形晶片任一边长一般不应大于 40mm，其性能指标应符合附录 B 的要求并提供证明文件，测试方法按 GB/T 27664.2 的规定。 4.2.2.3 仪器和探头的组合性能
4.2.2.3.1 仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区（仅限直探头）和远场分辨力。
4.2.2.3.2 以下情况时应测定仪器和探头的组合性能∶
a） 新购置的超声检测仪器和（或）探头;
b） 仪器和探头在维修或更换主要部件后;
c）检测人员有怀疑时。
4.2.2.3.3 水平线性偏差不大于 1%，垂直线性偏差不大于 5%。
4.2.2.3.4 仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于±10%。
4.2.2.3.5 仪器-直探头组合性能还应满足以下要求∶
a） 灵敏度余量应不小于 32dB;
b）在基准灵敏度下，对于标称频率为 5MHz 的探头，盲区不大于 10mm;对于标称频率为
2.5MHz 的探头，盲区不大于 15mm;
c）直探头远场分辨力不小于 20dB。
4.2.2.3.6 仪器-斜探头组合性能还应满足以下要求∶
a） 灵敏度余量应不小于 42dB;
b ）斜探头远场分辨力不小于12dB。
4.2.2.3.7 在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。
4.2.2.3.8 仪器和探头组合频率的测试方法按 JB/T 10062的规定，其他组合性能的测试方法参照
JB/T 9214 的规定。
4.2.3 试块
4.2.3.1 标准试块
4.2.3.1.1 标准试块是指具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块，用于评定和校准超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准的试块。本部分采用的标准试块为 20 号
优质碳素结构钢制 CSK-IA、DZ-I 和 DB-P Z20-2。
4.2.3.1.2 CSK-IA 试块的具体形状、尺寸见本部分，DZ-I和 DB-PZ20-2 的具体形状和尺寸见 JB/T 9214。
4.2.3.1.3 标准试块的制造应满足 JB/T8428的要求，制造商应提供产品质量合格证，并确保在相同测试条件下比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体（面）时，其最大反射波幅差应小于等于 2dB。 4.2.3.2 对比试块
4.2.3.2.1 对比试块是指与被检件或材料化学成分相似，含有意义明确参考反射体（反射体应采用机加工方式制作）的试块，用以调节超声检测设备的幅度和声程，以将所检出的缺陷信号与已知反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。
4.2.3.2.2 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到不同工件厚度对接接头的检测，试块厚度的选择应由较大工件厚度确定。
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